一、簡介：

磁粉探傷中標準試片是一種任意貼合在工件表面的片狀試樣，而試塊是無法貼合在工件表面的塊狀試樣。

二、定義：

磁粉探傷標準試片是磁粉探傷中的一種人工模擬缺陷的試片，具有一定的標準性和易描述性。

三、分類：

可以分為A型靈敏度試片和磁場指示器；

其中A型靈敏度試片按照加工工藝分為退火型（A1型）和未退火型（A2型）；

A型靈敏度試片按照板厚和槽深數值分為7/50、15/50、30/50、15/100、30/100、60/100。

四、性能：

A型靈敏度試片：

主要作為選擇磁化規(guī)范的主要手段，用于檢查探傷設備、磁粉和磁懸液的性能，及連續(xù)法中的工件表面有效磁場的方向以及操作是否適當。

磁場指示器：

性能與A型靈敏度試片一樣，但比A型靈敏度試片更加經久耐用，操作簡便。對于特殊的曲率大的曲面，A型靈敏度試片無法貼合，檢測差，磁場指示器卻無此問題。

五、組成：

A型靈敏度試片：主要是由電磁軟鐵板制成，分為退火型和未退火型。

磁場指示器：主要是由電爐銅焊將八塊低碳鋼與銅片焊在一起構成。

六、使用方法：

A型靈敏度試片：

選擇需要的A型靈敏度試片，將其貼合在待檢工件表面，噴灑磁懸液并磁化觀察試片中間的圓形及直線型是否在某一方向顯現(xiàn)，若顯現(xiàn)清晰，則磁粉探傷設備電流值、磁粉/磁懸液選擇合適。

磁場指示器：

磁粉探傷中，將指示器銅面朝上，八塊低碳鋼面朝下緊貼被檢工件，用連續(xù)法給指示器銅面上施加 磁懸液，觀察磁痕顯示。

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